X射線熒光分析儀
更新時(shí)間:2020-11-05 點(diǎn)擊次數(shù):1481
X射線熒光分析儀,采用良好的硅SIPIN探測器(分辨率為150ev),實(shí)現(xiàn)了無液態(tài)氮檢出器下高靈敏度的檢測功能。配備自動切換的濾光片及透射式X射線球管,大程度地縮小了X射線源與被測物體的間距,從而在較低的電壓下達(dá)到同樣的激發(fā)效率,同時(shí)減少了漫射光的干擾,大大地提高了靈敏度和讀數(shù)的準(zhǔn)確性,重復(fù)性。
它主要有以下幾個(gè)特點(diǎn):
1、在測定微量成分時(shí),由于X射線管的連續(xù)X射線所產(chǎn)生的散射線會產(chǎn)生較大的背景,致使目標(biāo)峰的觀測比較困難。為了降低或消除背景和特征譜線等的散射X射線對高靈敏度分析的影響,此熒光分析儀配置了4種可自動切換的濾光片,有效地降低了背景和散射X射線的干擾,調(diào)整出較具感度的輻射,進(jìn)一步提高了S/N的比值,從而可以進(jìn)行更高靈敏度的微量分析。
2、X射線管的連續(xù)X射線所產(chǎn)生的散射線會產(chǎn)生較大的背景,軟件可自動過濾背景對分析結(jié)果的干擾,從而能確保對任何塑料樣品的進(jìn)行快速準(zhǔn)確的分析。
3、當(dāng)某些元素的電子由高等級向低等級越遷時(shí)釋放的能量相近,會使此時(shí)譜圖的波峰重疊在一起,由此產(chǎn)生了重疊峰。SCIENSCOPE自行開發(fā)的軟件自動剝離重疊峰,確保了元素分析的正確性。
4、逃逸峰:由于采用的是Si針半導(dǎo)體探測器,因此當(dāng)X射線熒光在通過探測器的時(shí)候,如果某種元素的含量較高(能量也會相應(yīng)的較高),其被Si吸收的概率也就越大。此時(shí),光譜圖中在該元素的能量值減去Si能量值的地方回產(chǎn)生一個(gè)峰,此峰即為逃逸峰。
5、在電壓不穩(wěn)的情況下,可對掃描譜圖的漂移進(jìn)行自動追蹤補(bǔ)償。